通过对在运行的500 k V线路共144根耐张线夹进行检测,对X光照片进行分析,发现该批耐张线夹存在数量众多的功能性缺陷。对该类缺陷的成因进行了分析,并提出了相应运维策略以防止该类缺陷的再次出现,为高电压等级耐张线夹的质量检测和运维策略的制定提供了理论和实践依据。
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