工 工知库 本地镜像 · 机械工业信息研究院
37,113 篇案例 37,113 篇有全文
案例库 / 电气时代 / 2016 年 第 6 期

SGS测量技术中的计数率损失校正方法试验研究

作者未标注
来源期刊电气时代
年份 / 期2016 年 第 6 期
页码第 93-96 页
栏目分类产品与技术_自动化系统_测量技术
案例编号DQSD201606040
入库时间2026-10-19 15:45
全文 2.2 MB

摘要

在HPGeγ谱仪测量中,当谱仪系统通过的总计数率较高时,会出现计数率损失现象。在定量测量分析中需要对损失的计数率进行校正。通过试验,对参考峰法与谱仪内置活时间计数法的校正效果进行了比较分析。结果表明:在试验涉及的死时间范围中,参考峰校正方法存在不足,而活时间计数法得到的计数率结果能够满足定量测量的需要。根据这个结果,卸除了研制中的分段式γ扫描测量装置上的参考源,降低了装置成本,提高了装置的安全性能,简化了测量分析流

全文预览

若上方预览无法显示,请新窗口打开或下载 PDF。