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案例库 / 电气应用 / 2015 年 第 S2 期

基于固态残留物X射线能谱的GIS设备故障分析

任志刚, 王雅群, 徐兴全, 江江, 郭卫, 桂媛, 任健聪, 齐伟强
国网北京电力科学研究院; 国网北京通州供电公司; 国网北京石景山供电公司
来源期刊电气应用
年份 / 期2015 年 第 S2 期
页码第 639-641 页
栏目分类信息与通信
案例编号DGJZ2015S2142
入库时间2026-10-19 15:46
全文 2.1 MB

摘要

气体绝缘开关设备(GIS)绝缘故障的事后分析对于提高制造和运行水平具有重要意义。通过X射线能谱分析得到的固态残留物的组成成分,可以获得故障发生的重要线索。首先介绍了X射线能谱分析方法的理论依据和仪器结构,然后对一起GIS设备内部击穿故障的固态残留物进行了成分分析。现场应用表明利用X射线能谱分析得到的固态残留物组分,能够揭示故障原因。这对于提升GIS故障分析水平和提高GIS安全可靠性具有重要的意义。

关键词

GIS 绝缘故障 事故分析 X射线 能谱

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