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案例库 / 金属加工(冷加工) / 2005 年 第 3 期

光切法测量表面粗糙度的常见问题与消除方法

张泰昌
北京市计量检测科学研究院,北京
来源期刊金属加工(冷加工)
年份 / 期2005 年 第 3 期
页码第 55-57 页
栏目分类测量
案例编号jxgr-ljg200503030
入库时间2026-10-19 15:59
全文 200 KB

摘要

用光切显微镜测量表面粗糙度时,目镜视场内成像质量的好坏,将直接影响测量精度,因此必须对仪器进行精心调整.本文对仪器调整及测量过程中常见的一些问题及其消除方法作一介绍,这对于正确使用仪器、提高测量精度是必需的.

关键词

光切法 高测量精度 表面粗糙度 仪器调整 消除方法 目镜视场 成像质量 测量过程

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