测试时被测IC的某输出端不会变化,总是高电乎或低电子,自然该芯片通不过测试,除了该芯片本身已损坏之外,常为该输出端外部负载过重或对地、对源短路所致,如该输出端所驱动的下级IC输人端性能变坏或短路,输出印刷线漏电或短路,都会造成这种情况.有时由于该输出端接有电容负载,使输出电平过一段时间才能变高,测试工作频率较高的测试仅误测为低电平,而使测试通不过.
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